ОЦЕНКА ВОСПРИИМЧИВОСТИ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ К ИМПУЛЬСНЫМ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫМ ИЗЛУЧЕНИЯМ

В данной статье предложен метод оценки восприимчивости радиоэлектронных средств к импульсным электромагнитным излучениям. Механизм проникновения электромагнитной волны к элементам радиоэлектронных систем и воздействия на них определяется интенсивностью поля излучения на элементах радиоэлектронных систем. Под моделью воздействия импульсов электромагнитных излучений на радиоэлектронные системы понимается физико-аналитическая зависимость между параметрами воздействия импульсов электромагнитных излучений и параметрами образца радиоэлектронных систем. Предложена физико-математическая модель оценки восприимчивости радиоэлектронных средств к импульсным электромагнитным излучениям. В основу разработанной модели была положена физика отказа образца радиоэлектронного средства, представляющая собой описание электромагнитных, электрических и тепловых процессов, приводящих к деградации исходной структуры элементов аппаратуры. Рассмотрены условия, приводящие к общему уравнению процесса функционального поражения радиоэлектронных систем при воздействии импульсов электромагнитного излучения. Рассмотрены внутренние характеристики комплектующих элементов, реагирующих на поражающее воздействие. Получено соотношение для мощности разрушения. Получена зависимость температуры теплового пробоя от длительности воздействующего импульса при различных уровнях мощности. Получено выражение для оценки надежности радиоэлектронной системы при воздействии импульсов электромагнитных излучений как поражающего фактора.

восприимчивость, импульсное электромагнитное излучение, радиоэлектронные средства, полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы, модель, тепловой пробой

1. Буроменский Н.Г. Методические основы построения модели «поражающее действие - стойкость» // Вопросы атомной науки и техники. 2012. Вып. 4. С. 53-57

2. Ведерников Б.В., Горюнов Н.Н., Чернышев А.А. Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов. М.: Знание, 1977

3. Антипин В.В., Годовичин В.А., Громов Д.В. и др. Влияние мощных импульсных микроволновых помех на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы // Зарубежная радиоэлектроника. 1995. No 1

4. Феллер В. Введение в теорию вероятностей и ее приложения. Т. 1. М.: Мир, 1984

5. О надежности сложных систем: сборник трудов семинара Секции надежности Научного совета по комплексной проблеме «Кибернетика» при Президиуме АН СССР. М.: Советское радио, 1966

6. Зацаринный А.А., Буроменский Н.Г., Гаранин А.И. Живучесть радиоэлектронных систем и ее количественные показатели // Межотраслевая информационная служба. 2015. No 3. С. 68-73

7. Зацаринный А.А., Буроменский Н.Г., Гаранин А.И. Методические вопросы формирования системы технического обеспечения информационно-телекоммуникационных сетей // Системы и средства информатики. 2013. Т. 23, No 2. С. 154-169