ведущий научный сотрудник 16 ЦНИИ МО,
кандидат технических наук, старший научный сотрудник
В данной статье предложен метод оценки восприимчивости радиоэлектронных средств к импульсным электромагнитным излучениям. Механизм проникновения электромагнитной волны к элементам радиоэлектронных систем и воздействия на них определяется интенсивностью поля излучения на элементах радиоэлектронных систем. Под моделью воздействия импульсов электромагнитных излучений на радиоэлектронные системы понимается физико-аналитическая зависимость между параметрами воздействия импульсов электромагнитных излучений и параметрами образца радиоэлектронных систем. Предложена физико-математическая модель оценки восприимчивости радиоэлектронных средств к импульсным электромагнитным излучениям. В основу разработанной модели была положена физика отказа образца радиоэлектронного средства, представляющая собой описание электромагнитных, электрических и тепловых процессов, приводящих к деградации исходной структуры элементов аппаратуры. Рассмотрены условия, приводящие к общему уравнению процесса функционального поражения радиоэлектронных систем при воздействии импульсов электромагнитного излучения. Рассмотрены внутренние характеристики комплектующих элементов, реагирующих на поражающее воздействие. Получено соотношение для мощности разрушения. Получена зависимость температуры теплового пробоя от длительности воздействующего импульса при различных уровнях мощности. Получено выражение для оценки надежности радиоэлектронной системы при воздействии импульсов электромагнитных излучений как поражающего фактора.
The method for evaluating the perception level of electronic means to pulsed electromagnetic radiation is considered in this article. The electromagnetic wave penetration mechanism towards the elements of electronic systems and the impact on them are determined by the intensity of the radiation field on the elements of electronic systems. The impact of electromagnetic radiation pulses to the electronic systems refers to physical and analytical parameters of the relationship between exposure to pulses of electromagnetic radiation and the sample parameters of electronic systems. A physical and mathematical model of evaluating the perception level of electronic means to pulsed electromagnetic radiation is given. The developed model was based on the physics of electronics means failure which represents the description of electromagnetic, electric and thermal processes that lead to the degradation of the original structure of the apparatus elements. The conditions that lead to the total equation electronic systems functional destruction when exposed to electromagnetic radiation pulses are described. The internal characteristics of the component elements that respond to the damaging effects are considered. The ratio for the power failure is determined. A thermal breakdown temperature versus pulse duration of exposure at various power levels is obtained. The way of evaluation the reliability of electronic systems when exposed to pulses of electromagnetic radiation as a destructive factor is obtained.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.