Preview

Научный вестник МГТУ ГА

Расширенный поиск

Экстракция параметров мощных СВЧ транзисторов

Полный текст:

Аннотация

Описана аналитическая нелинейная модель мощного СВЧ транзистора на основе параллельных резонансных контуров с потерями. Предложен метод экстракции параметров мощных СВЧ транзисторов, не требующий использования оптимизационных алгоритмов. Разработана тестовая плата для измерений мощных СВЧ транзисторов в диапазоне 0,5 - 20 ГГц. Достоверность предложенного метода и нелинейной модели подтверждается полученными экспериментальными данными.

Об авторе

Р. Ю. Малахов
МАИ
Россия


Список литературы

1. Малахов Р.Ю., Добычина Е.М. Мощные транзисторы для бортовых радиолокационных систем // Научный Вестник МГТУ ГА. - 2012. - № 12 (186). - С.

2. - 190.

3. Torres-Rios E., Saavedra C. A new compact nonlinear model improvement methodology for GaN-HEMT, 2014 IEEE 5th Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), Santiago, 2014. Рp. 1 - 4.

4. Marcoux N.L., Fisher C.J., White D., Lachapelle J., Palacios T., Saadat O., Sonkusale S. A new GaN HEMT nonlinear model for evaluation and design of 1-2 watt power amplifiers, 2012 IEEE 55th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS), Boise, 2012. Рp.

5. - 56.

6. Chang C., Di Giacomo-Brunel V., Floriot D., Grunenputt J., Hosch M., Blanck H. Nonlinear transistor modeling for industrial 0.25-µm AlGaN-GaN HEMTs, 2013 European Microwave Conference (EuMC), Nuremberg, 2013. Рp. 1471 - 1474.

7. Dambrine G., Cappy A., Heliodore F., Playez E. A new method for Determining the FET small-signal equivalent circuit, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 36, № 7, 1988. Рp. 1151-1159.


Для цитирования:


Малахов Р.Ю. Экстракция параметров мощных СВЧ транзисторов. Научный вестник МГТУ ГА. 2014;(209):136-144.

For citation:


Malakhov R.Y. EXTRACTION OF ON-BOARD TRM HIGH-POWER MICROWAVE HEMT PARAMETERS. Civil Aviation High Technologies. 2014;(209):136-144. (In Russ.)

Просмотров: 92


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2079-0619 (Print)
ISSN 2542-0119 (Online)